Пн - Пт: c 8.00 - 18.00 Сб - Вс: выходной

Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855

Временно отсутствует
Цена по запросу

Производитель: JENOPTIK (Hommel-Etamic)

Производство: Германия

Гарантия: 1 год

  • Описание
  • Документы

ДВА В ОДНОМ. HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

 

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА. Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

 

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ. Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

 

Функциональные характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

  • Эргономичный дизайн

  • Система активного подавления вибрации

  • Управление станции с джойстиком

  • Измерение шероховатости и контура за один проход

  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время

  • Возможность измерения шероховатости на сферах

  • Сверхнизкие внутренние шумы

  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки

  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:

    окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

 

Технические характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

 

Параметр

ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости

 

 

Длина трассирования

мм

0,1 ... 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 ... 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 ... 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 ... 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости

 

 

Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 ... 50